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TH2822E手持式LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀基本精度：0.1%■ 測(cè)試速度：最快250ms■ 輸出阻抗100Ω■ 清新炫麗的雙色鑄塑外殼.提供USB接口通訊能力，可方便地與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊和遠(yuǎn)程控制。為滿足用戶不斷增加的對(duì)SMD器件的測(cè)試需求，

TH2822D手持式LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀基本精度：0.1%■ 測(cè)試速度：最快250ms■ 輸出阻抗100Ω■ 清新炫麗的雙色鑄塑外殼.提供USB接口通訊能力，可方便地與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊和遠(yuǎn)程控制。為滿足用戶不斷增加的對(duì)SMD器件的測(cè)試需求，

TH2822C 手持式LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀基本精度：0.25%■ 測(cè)試速度：最快250ms■ 輸出阻抗100Ω■ 清新炫麗的雙色鑄塑外殼.提供USB接口通訊能力，可方便地與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊和遠(yuǎn)程控制。為滿足用戶不斷增加的對(duì)SMD器件的測(cè)試需求，

TH2822A 手持式LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀 基本精度：0.25%■ 測(cè)試速度：最快250ms■ 輸出阻抗100Ω■ 清新炫麗的雙色鑄塑外殼.提供USB接口通訊能力，可方便地與PC進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊和遠(yuǎn)程控制。為滿足用戶不斷增加的對(duì)SMD器件的測(cè)試需求，

TL2812D 精密LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀■ 100Hz，120Hz，1kHz，10kHz 4個(gè)頻率■ 基本精度：0.2%■ 測(cè)試速度：最快19ms，■ 6位讀數(shù)分辨率■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面。

TH2811D精密 LCR電橋測(cè)試儀LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀介紹： TH2810B+ LCR數(shù)字電橋■ 100Hz，120Hz，1kHz，10kHz 4個(gè)頻率■ 基本精度：0.2%■ 測(cè)試速度：最快19ms，■ 6位讀數(shù)分辨率■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面。

TH2810D精密 LCR電橋測(cè)試儀■ 100Hz，120Hz，1kHz，10kHz 4個(gè)頻率■ 基本精度：0.1%■ 測(cè)試速度：最快19ms，■ 6位讀數(shù)分辨率■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面。

TH2810B+ LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀介紹： TH2810B+ LCR數(shù)字電橋■ 100Hz，120Hz，1kHz，10kHz 4個(gè)頻率■ 基本精度：0.1%■ 測(cè)試速度：最快19ms，■ 6位讀數(shù)分辨率■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面。

H2816A+/TH2816B+ 精密LCR測(cè)試儀，測(cè)試頻率：50Hz-200kHz，分辨率：12000點(diǎn)，0.02%精度（TH2816A+/TH2816B+）6位讀數(shù)，最快速度約60 次/秒。

H2816A+/TH2816B+ 精密LCR測(cè)試儀，測(cè)試頻率：50Hz-200kHz，分辨率：12000點(diǎn)，0.02%精度（TH2816A+/TH2816B+）6位讀數(shù)，最快速度約60 次/秒。

TH2817C+ LCR數(shù)字電橋/濾波器平衡測(cè)試儀介紹： TH2817C+ 濾波器平衡測(cè)試儀/LCR數(shù)字電橋測(cè)試 4.3英寸TFT液晶顯示。中英文可選操作界面。50Hz-100kHz，分辨率：11頻點(diǎn)，基本精度：0.1%，測(cè)試速度：最快19ms。

TH2829系列自動(dòng)元件分析儀應(yīng)用高速處理器和新的軟件系統(tǒng)，使其擁有更高的測(cè)試速度、更全面的分析功能和友好的人機(jī)交互體驗(yàn)。精心設(shè)計(jì)的測(cè)量電路和優(yōu)化的算法，進(jìn)一步提升了低D值電容和高Q值電感的測(cè)試穩(wěn)定性。